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필드 방출 스캔 전자 현미경 AT4000Pro
AT4000Pro는 고휘도, 긴 수명의 Schottky field emission Electron Gun이 장착된 분석 열장 방출 스캔 전자 현미경입니다. 이 렌즈는 3단계 자기 렌즈 설계를 특징으로 하며 EDS, EBSD 및 WDS와 같은 응용 분야에서 상당한 이점을 제공합니다. 저진공 모드와 함께 표준 사양으로 제공되며 고성능 저진공 보조 전자 검출기 및 플러그인 후방 산란된 전자 검출기와 함께 전도성이 낮거나 없는 시료를 관찰할 수 있습니다.
제품의 장점
고휘도, 긴 수명의 Schottky 열장 방출 전자총으로 장착.
30kV에서 0.9nm 이상의 제한 분해능으로 높은 해상도.
넓은 범위의 빔 전류 조정으로 최대 200nA의 분석 빔 전류를 지원하는 3단계 자기 렌즈 디자인
누출 없는 객관적인 렌즈 설계로 자기 시료를 직접 관찰할 수 있습니다.
표준 저진공 모드 및 고성능 검출기
표준 광학 탐색 모드와 중국어 운영 소프트웨어로 분석 작업을 더 쉽게 수행할 수 있습니다.
제품 매개변수
| 주요 매개변수 | 해상도 | 0.9nm @ 30kV, SE |
| 2.5nm @ 30kV, BSE, 30Pa | ||
| 30kV, SE, 30Pa. 에서 1.5nm | ||
| 가속 전압 | 200V ~ 30kV(35kV 옵션) | |
| 확대 | 1,000,000 x | |
| Electron Gun 유형 | Schottky Field Emission Electron Gun | |
| 검체 챔버 | 낮은 진공 모드 | 최대 180Pa |
| 카메라 | 듀얼 카메라(광학 탐색 + 챔버 내 모니터링) | |
| 여행 범위 | X = 1 10mm, Y = 110 mm, Z = 65 mm | |
| 기울기 및 회전 | T:-10°~+70°, R:360° | |
| 검출기 및 확장 | 표준 | 전리함 전자 검출기(ETD) |
| 저진공 보조 전자 검출기(LVD) | ||
| 플러그인 백산란 전자 검출기(BSED, 5개 세그먼트, 옵션) | ||
| 선택 사항 | 에너지 분산 분석기(EDS) | |
| 전자 후방 산란 회절(EBSD) | ||
| 플러그인 스캔 Transmission Electron Microscope(STEM) 검출기 | ||
| 검체 교환 챔버(4"/8") | ||
| 트랙볼 및 손잡이 패널 | ||
| 소프트웨어 | 언어 | 중국어 소프트웨어 |
| 운영 체제 | Windows | |
| 내비게이션 | 광학 탐색, 제스처 바로 가기 탐색, 트랙볼(옵션) | |
| 자동 기능 | 자동 밝기/대비, 자동 초점, 자동 AST igmatism 보정 |
