• 넓은 테스트 범위 소스를 사용한 SMU 팩토리 고정밀 SMU 측정 장치 센서 특성 테스트 소스 계기 계기 계기 계기 Keithley 2410 교체
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넓은 테스트 범위 소스를 사용한 SMU 팩토리 고정밀 SMU 측정 장치 센서 특성 테스트 소스 계기 계기 계기 계기 Keithley 2410 교체

After-sales Service: 1 Year
Function: Storage, Cleared
Display: Digital
Usage: Electric Component Tester, Gas Sensor Tester, Catalytic Element Tester, Lightning Protection Device Tester
Environment: Room Temperature
Warranty: With Warranty

공급 업체에 문의

골드 멤버 이후 2021

비즈니스 라이센스가 검증 된 공급 업체

제조사/공장

기본 정보

모델 번호.
S200
Power Source
AC 85V-265V
Weight
0-10Kg
Installation
Direct Connected
Customized
Customized
운송 패키지
Carton Box
사양
106mm x255mm x425mm
등록상표
Precise
원산지
China
세관코드
9030339000
생산 능력
100PCS/Month

제품 설명

 SMU 출하 시 최고 정밀 시보 측정계(와이드 테스트 포함) 범위 측정 장치 센서 특성 테스트 계기 Sourcemeter Keithley 2410 교체
소개

 
Smu Factory High Precise Smu with Wide Test Range Source Measure Unit Sensor Characteristic Test Source Instrument Meter Keithley 2410 Replacement
Wuhan Precise Instrument Co., Ltd 는 수년 동안 S 시리즈 소스 측정기를 제작하고 있습니다.
소스 측정 미터 기능에는 고정밀, 넓은 동적 범위, 디지털 터치 스크린, 4분면 작동, 입력 및 출력 전압 및 전류 수집 및 테스트, 최대 출력 전압 300V 및 최소 출력 전류 100pA가 있습니다.
따라서 전기 특성 테스트에서 널리 사용됩니다.
 





특징


8인치 터치 스크린, 그래픽 작동
Liv, PIV 소프트웨어를 빠르게 테스트
0.1%에서 높은 정확도
4개 사분면 작동, 범위: 100pA~1A , 0.3mV~300V
다양한 스캐닝 모드에서 선형, 지수 및 사용자 정의 스캐닝을 지원합니다
USB 저장 및 내보내기
여러 통신 인터페이스 RS-232/GPIB/LAN
Smu Factory High Precise Smu with Wide Test Range Source Measure Unit Sensor Characteristic Test Source Instrument Meter Keithley 2410 Replacement


기술 매개변수
최대  출력 파워 30W,
네 개의 사분면 소스 또는 싱크 작동
소스/싱크 제한 ±30V(≤1A), ±300V(≤100mA),
±1.05A(≤30V), ±105mA(≤300V)
과대  범위, 소스 및 측정의 105%
부하 정전 용량 22nF 미만
소음(20MHz) 2mV RMS, < 20mV vp-p
전압  보호대 출력 임피던스 1kΩ, 편향 - 전압 <80mV
최대 샘플링 속도 1,000개의 샘플/초
트리거 I/O
통신 인터페이스 RS-232, GPIB
전원 공급 장치 AC100V~240V 50/60Hz
 온도 계수 25 ± 10°C
길이, 너비, 높이 425mm L x 255mm W x 106mm H
무게 5kg
보증 1년


전압 및 전류 정확도: (모델에 따라 전압  및 전류 범위가 다릅니다. 선택 가이드를 참조하십시오.)
 
전압
 
소스
 
측정
 
범위
 
프로그래밍 해상도 정확도 ±(% rdg + V) 프로그래밍 해상도 정확도 ±(%rdg + A)
300mV 30uV 0.1% ± 300uV 30uV 0.1% ± 300uV
3V 300uV 0.1% ± 500uV 300uV 0.1% ± 500uV
30V 3mV 0.1% ± 3mV 3mV 0.1% ± 3mV
300V 30mV 0.1% ± 30mV 30mV 0.1% ± 30mV
현재
 
소스
 
측정
 
범위
 
프로그래밍 해상도 정확도 ±(%rdg + V) 프로그래밍 해상도 정확도 ±(%rdg + A)
100nA 10pA 0.1% ± 0.5nA 10pA 0.1% ± 0.5nA
1uA 100pA 0.1% ± 3nA 100pA 0.1% ± 3nA
10uA 1nA 0.1% ±5nA 1nA 0.1% ±5nA
100uA 10nA 0.1% ± 50nA 10nA 0.1% ± 50nA
1mA 100nA 0.1% ±300nA 100nA 0.1% ±300nA
10mA 1uA 0.1% ±5uA 1uA 0.1% ±5uA
100mA 10uA 0.1% ± 20uA 10uA 0.1% ± 20uA
1A 100uA 0.1% ± 2mA 100uA 0.1% ± 2mA



소스/싱크 작업 사분면 다이어그램


                S100                                  S200                                   S300                 
Smu Factory High Precise Smu with Wide Test Range Source Measure Unit Sensor Characteristic Test Source Instrument Meter Keithley 2410 Replacement
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Smu Factory High Precise Smu with Wide Test Range Source Measure Unit Sensor Characteristic Test Source Instrument Meter Keithley 2410 Replacement




응용 프로그램

반도체 장치 테스트: 저항, 다이오드, 트랜지스터, MOSFET, SiC, Gan 등
에너지 및 효율성 테스트: LED/AMOLED, 태양전지, DC-DC 컨버터 등
센서 특성 테스트: 저항성, 홀 효과 등
유기 재료 시험: 전자 잉크, 인쇄 전자 기술 등.
나노물질 테스트: 그래핀, 나노와이어 등



SMU 공장:  

Smu Factory High Precise Smu with Wide Test Range Source Measure Unit Sensor Characteristic Test Source Instrument Meter Keithley 2410 Replacement
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