• 과학 연구 AFM 원자간력 현미경
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과학 연구 AFM 원자간력 현미경

After-sales Service: Yes
Warranty: 1year
확대: 4배
유형: Stereomicroscope
실린더의 수: No
유동성: 바탕 화면

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360° 가상 투어

다이아몬드 회원 이후 2015

비즈니스 라이센스가 검증 된 공급 업체

평가: 5.0/5
제조사/공장, 무역 회사, 그룹사
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개요

기본 정보

모델 번호.
AFM1000
입체 효과
입체 효과
광원의 종류
레이저
모양
오각형의 프리즘
용법
교육
원칙
광학
광학의 원리
위상차 현미경
이름
원자성 현미경검사
작업 모드
FM - 태핑, 옵션 접점, 마찰, 위상, 마그네
샘플 크기
90mm*20m(Dia * Height)
스캔 범위
20mmin xydirection, 2mm in z direction.
스캔 해상도
Xy to 0.2nm, Z to 0.05nm
샘플 이동 범위
15X15mm
광학 확대
4배
스캔 속도
0.6hz ~ 4.34hz
스캔 각도
0-360도
이미지 샘플링 지점
256 * 256,512 * 512
피드백
DSP 디지털 피드백
Feedback Sampling Rate
64.0kHz
커뮤니케이션
USB.R232
운영 환경
Windowsxp/7/8/10 Operating System
모델
AFM-1000
운송 패키지
Wooden Case Package
사양
54*55*99cm
등록상표
nanbei
원산지
China(Mainland)
세관코드
9012100000
생산 능력
200set a Month

제품 설명

제품 설명

과학 연구 AFM 원자간력 현미경


원자력 현미경의 간략한 소개:
원자력 현미경(AFM) - 절연체를 포함한 고체 물질의 표면 구조를 연구하는 데 사용할 수 있는 분석 기기. 이 검사에서는 테스트할 샘플 표면과 미세 힘 감응성 요소 사이의 매우 약한 원자 간 상호 작용을 감지하여 물질의 표면 구조와 특성을 검사합니다. 매우 민감한 마이크로 캔틸레버 끝이 고정된 약력 쌍이고, 샘플 가까이에 있는 작은 팁의 다른 쪽 끝이 이 단력과 상호 작용하며, 힘이 마이크로 캔틸레버 변형 또는 이동 상태 변화를 일으킬 수 있습니다. 샘플을 스캔할 때 센서를 사용하여 이러한 변화를 감지할 수 있으며, 나노 해상도 정보와 표면 거칠기 정보의 표면 형태를 얻기 위해 힘 정보의 분포를 얻을 수 있습니다.

원자력 현미경의 특징:
  1.통합 스캐닝 프로브와 샘플 스테이그가 간섭 방지 기능을 향상시켰습니다.
2  정밀 레이저 및 프로브 위치 지정 장치를 사용하면 프로브를 변경하고 스팟을 쉽고 편리하게 조정할 수 있습니다.
     3.접근하는 샘플 프로브를 사용하면 바늘이  샘플 스캔과 수직을 이룰 수 있습니다 .        
  자동 펄스 모터 구동 컨트롤 샘플 탐침이 수직 접근 방식으로 스캐닝 영역을 정확하게 배치합니다.
  5.고정밀 샘플 모바일 기기의 설계를 사용하여 관심 있는 샘플 스캐닝 영역을 자유롭게 이동할 수 있습니다.
  광학 배치의 6.CCD 관찰 시스템을 통해 프로브 샘플 스캔 영역을 실시간으로 관찰하고 위치를 지정할 수 있습니다.
  모듈화를 위한 전자 제어 시스템 설계로 회로 유지보수와 지속적인 개선이 촉진되었습니다.
8.  다중 스캐닝 모드 제어 회로의 통합, 소프트웨어 시스템과 협력
   스프링 서스펜션은 단순하고 실용적인 향상된 간섭 방지 기능을 제공합니다.

 

제품 매개변수

주요 세부 정보:

작업 모드 FM - 태핑, 옵션 접점, 마찰, 위상, 자기 또는 정전기
샘플 크기 Φ ≤ 90mm, H ≤ 20mm
스캔 범위 20mmin XYDirection, Z 방향으로 2mm
스캔 해상도 XY 방향에서 0.2nm, Z 방향으로 0.05nm
샘플의 이동 범위 15x15mm
모터의 펄스 폭이 가까워집니다 10 ± 2ms
이미지 샘플링 지점 256 × 256,512 × 512
광학 확대 4배
광학 해상도 2.5mm  
스캔 속도 0.6Hz ~ 4.34Hz
스캔 각도 0°~360°
스캔 제어 XY 방향의 18비트 D/A, Z 방향의 16비트 D/A
데이터 샘플링 14-Bita/D, 더블백 16비트 A/D 멀티 채널 동기 샘플링
피드백 DSP 디지털 피드백
피드백 샘플링 속도 64.0KHz
컴퓨터 인터페이스 USB2.0
운영 환경 Windows98/2000/XP/7/8

상세 사진

 

Scientific Research Afm Atomic Force MicroscopyScientific Research Afm Atomic Force Microscopy
 

포장 및 배송

Scientific Research Afm Atomic Force MicroscopyScientific Research Afm Atomic Force Microscopy

회사 프로필

Scientific Research Afm Atomic Force Microscopy

FAQ

FAQ    
   1.적합한 것을 어떻게 선택할 수 있습니까?
고객님, 우편 또는 온라인으로 자세한 요구 사항을 알려 주시면 요청하신 대로 적절한 요구 사항을 추천해 드립니다.
2. 가격이 경쟁력입니까?
고객님, 경쟁력 있는 가격으로 최고의 품질을 제공해 드립니다.
   3.어떻게 지불할 수 있습니까?
고객님, T/T, Western Union과 같은 다양한 지불 조건을 수락했습니다.
   4.지불 후에 받을 때?
고객님, 일반 모델은 5-7일 내에 배송될 수 있습니다.  주소로 운송 시간을 확인하시려면 당사로 문의하십시오.
 어떻게 전달합니까?
고객님, 우리는 익스프레스, 바다, 항공으로 보낼 수 있습니다.
 6.운송 중에 파손됩니까?
고객님 , 걱정하지 마십시오. 우리는 표준 수출 패키지를 합니다.
     7.사용 방법을 모르는 경우 어떻게 해야 합니까?
고객님, 걱정하지 마십시오. 수동 사용자가 함께 보내질 것입니다. 또한 더 많은 기술 지원을 받을 수 있습니다.
8.   일부 부품이 고장나는 경우 어떻게 해야 합니까?
고객님 , 걱정하지 마십시오. 마모 부품을 제외한 12개월 무상수리 서비스를 제공합니다. 12개월 후에 부품을 구매할 수도 있습니다.

사전 판매 서비스
· 고객의 문의 또는 온라인 메시지에 신속하게 응답할 수 있도록 24시간 온라인 지원
· 고객에게 가장 적합한 기계 모델을 선택하도록 안내합니다.
· 상세 사양 및 경쟁력 있는 가격을 제공합니다.
계약 실행
· 기계 생산은 계약에 따라 엄격하게 조정될 것입니다.
· 생산 중 검사를 위해 기계 사진을 보냅니다.
· DHL에서 통관 서류를 보냅니다.
· 배송 후 최신 뉴스를 업데이트하고 통관 준비
판매 후 서비스
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ISO 9001, ISO 9000, ISO 20000, HSE
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