데스크탑 곡물 금속 탐지기 터치 스크린 엑스레이 형광 분석기

• 커스터마이징: 사용 가능
• 판매 후 서비스: 평생 서비스
• 보증: 1년
• 모델 번호.: GB2762-2017
• 가지고 다닐 수 있는: 비 휴대용
• 형태: 데스크탑
• 신청: 산업의
• 유형: 산업 고해상도 X 선 검출기
• 인증: CE, ISO
• 사용자 지정: 사용자 지정
• 알람 양식: 디스플레이 경보
• X선관: 50kV, 1mA
• 검출기: 빠른 SDD 검출기
• 측정 시간: 30s-1200은 선택 사항입니다
• 측정 범위: cd, ni, cu, zn, as, PB 등
• 측정 모듈: 쌀
• 무게: 9kg
• 규격: 320mm w * 235mm l * 205mm h
• 원산지: 중국

제품 설명

XR101은 고급 단색광 및 초점 광학기기를 통해 고정밀 X선 형광(HDXRF) 기술을 사용합니다. 과볼로이드 곡선형 결정 광결정(DCC)은 장비의 신호 대 잡음비를 크게 개선해 줍니다. 이는 기존의 에너지 분산형 X선 형광 기술(EDXRF)에 비해 검출 정확도를 크게 높여 줍니다. 이 그림은 HDXRF 기술 장비의 기본 구조를 보여줍니다. 과대양곡선 크리스털 광학 바디(DCC)는 방사선원의 다색광 빛을 고에너지 단색광 광선으로 변환하여 측정 샘플에 효과적으로 초점을 맞춥니다. 시료에 초점을 맞춘 후 고에너지 단색광 빔은 여기 후에 초점을 맞추고, 중금속 요소는 고유의 특성 × 광선 형광 신호를 방출합니다. 고해상도 SDD 반도체 검출기는 신호를 수집 및 처리합니다. 마지막으로 소프트웨어 FP 알고리즘은 샘플의 요소 내용을 계산합니다.

 

피처

1.화학소화가 필요 없고 검사 속도가 빠릅니다
2.GB2762-2017에 따라 원소 검출 한계가 낮습니다
3.분석 모드: 정성적 스캐닝 분석 모드, 정량 분석 모드

제품 매개변수

규정 준수	GB2762-2017
측정 방법	고정밀 X선 형광 분석법 - HDXRF
X선관	50kV, 1mA
검출기	빠른 SDD 검출기
광학 시스템	Hyperboloid curved crystal--DCC
측정 시간	30s-1200은 선택 사항입니다
측정 범위	분석 성분: cd, ni, Cu, zn, as, PB 등
작동 온도	5°C~50ºC
전원 배터리	110-240VAC ±10%, 50-60Hz(헤르츠)
측정 모듈	쌀
무게	9kg
치수	320mm W x 235mm Lx 205mm H

 

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