• BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection 현미경
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BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection 현미경

Warranty: 3 Years
확대: 50x-1000x
유형: Industrial Inspection Microscope
실린더의 수: ≥ 세
유동성: 바탕 화면
모양: 원통 모양 렌즈

공급 업체에 문의

다이아몬드 회원 이후 2023

비즈니스 라이센스가 검증 된 공급 업체

제조사/공장

기본 정보

모델 번호.
BS-4020A
용법
교육, 연구, Industrial Inspection
원칙
광학
광학의 원리
Industrial Inspection Microscope
광학 시스템
nis45 무한색 보정 광학 시스템
아이피스
슈퍼 와이드 필드 플랜 아이피스 Sw10x/25mm
목표
5x, 10x, 20x, 50x, 100x
노세피스
뒷쪽 구석 섹시한 조각
반사된 조명
24V/100W 할로겐 램프
ECO 기능
에코 버튼이 있는 ECO 기능
집중하기
낮은 위치의 동축 굵은 초점 및 미세 초점
단계
3중 기계적인 무대와 손잡이
운송 패키지
Strong Carton with Polyfoam Protection
등록상표
BestScope
원산지
China
생산 능력
1000 Sets Per Month

제품 설명

BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope

소개

BS-4020 산업 검사 현미경은 다양한 크기의 웨이퍼와 대형 PCB 검사를 위해 특별히 설계되었습니다. 이 현미경은 신뢰할 수 있고 편안하고 정확한 관찰 경험을 제공할 수 있습니다. 완벽하게 수행된 구조, 고해상도 광학 시스템 및 인체 공학 운영 체제를 갖춘 BS-4020은 전문 분석을 가능하게 하며 웨이퍼, FPD, 회로 패키지, PCB, 재료 과학, 정밀 주조, 금속 도금기, 정밀 몰드, 반도체 및 전자 제품 등

피처

완벽한 현미경 조명 시스템
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
현미경은 Kohler 조명과 함께 제공되며, 광장 전체에 밝고 균일한 조명을 제공합니다. 무한대 광학 시스템 NIS45, 높은 NA 및 LWD 목표와 조화를 이루며 완벽한 현미경 영상을 제공할 수 있습니다.
 

고품질 세미-아포 및 아포 브라이트 필드 & 다크 필드 목표
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
NIS45 시리즈 Semi-APO 및 APO 객관적 렌즈는 다층 코팅 기술을 채택하여 구면수차와 자외선에서 적외선까지 색수차를 보정할 수 있습니다. 이미지의 선명도, 해상도 및 색상 변환을 보장할 수 있습니다. 다양한 확대를 위한 고해상도 및 플랫 이미지가 있는 이미지를 얻을 수 있습니다.
 

3.작동 패널은 현미경 앞에 있어 작동이 편리합니다.
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope메커니즘 제어판은 현미경 앞(작업자 근처)에 있어 시료를 관찰할 때 더 빠르고 편리하게 작동할 수 있습니다. 또한 오랜 시간 관찰과 광범위한 움직임으로 인한 부유식 먼지로 인한 피로를 줄일 수 있습니다.
4.Ergo tilting trinocular viewing head(안구돌진용 삼투안용
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
인체공학적 경사 보기 헤드가 관찰을 더욱 편안하게 해 주므로 장시간 작업하면서 발생하는 근육 긴장감과 불편함을 최소화할 수 있습니다.
 

5.초점 메커니즘 및 로우 핸드 위치의 미세 조정 핸들
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
무대 의 초점 조정 메커니즘과 미세 조정 핸들은 인체 공학적 디자인에 부합하는 로우 핸드 위치 설계를 채택하였습니다. 사용자는 작동 시 손을 들 필요가 없어 편안한 느낌을 가장 많이 줍니다.
 
6. 무대 에는 손잡이가 내장되어 있습니다.
손잡이 부분은 빠르고 느린 동작 모드를 실현할 수 있으며, 넓은 영역의 샘플을 빠르게 찾을 수 있습니다. 더 이상 단계의 미세 조정 핸들과 함께 사용할 때 샘플을 빠르고 정확하게 찾기가 어렵습니다.
대형 웨이퍼와 PCB에 특대형 스테이지(14" x 12")를 사용할 수 있습니다.
마이크로일렉트로닉스 및 반도체 샘플, 특히 웨이퍼 영역은 크기가 큰 경향이 있으므로 일반적인 금속합금 현미경 단계는 관찰의 필요를 충족시키지 못합니다. BS-4020은 넓은 이동 범위를 가진 대형 무대가 있으며 편리하고 쉽게 이동할 수 있습니다. 따라서 이 기기는 대규모 산업 시료를 현미경으로 관찰하기에 이상적인 기기입니다.
8.12" 웨이퍼 홀더는 현미경과 함께 제공됩니다.
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
이 현미경으로 12" 웨이퍼 및 소형 웨이퍼를 관찰할 수 있습니다. 빠르고 미세한 이동 단계 핸들을 사용하면 작업 효율성을 크게 개선할 수 있습니다.
 

정전기 방지 보호 덮개로 먼지를 줄일 수 있습니다.
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
산업용 샘플은 떠다니는 먼지에서 멀리 떨어져 있어야 하며, 약간의 먼지가 제품 품질 및 테스트 결과에 영향을 미칠 수 있습니다.
BS-4020에는 부동먼지나 낙진이 발생하지 않도록 방지하는 정전기 방지 보호 커버가 있어 시료를 보호하고 테스트 결과를 보다 정확하게 만들 수 있습니다.
 

10.더 긴 운전 거리와 높은 NA 목표
 
BestScope BS-4020A Trinocular Industrial Wafer Inspection Microscope
회로기판 샘플의 전자 부품과 반도체는 높이가 다릅니다. 따라서 이 현미경에는 원거리 작업 목표가 채택되었습니다. 한편, 산업 샘플의 높은 색상 재현에 대한 요구 사항을 충족하기 위해 다층 코팅 기술이 개발되어 수년 동안 개선되었으며 BF 및 DF 반아포 및 고 NA의 APO 목표가 채택되어 시료의 실제 색상을 복원할 수 있습니다.
 
11.다양한 관찰 방법으로 다양한 검사 요구 사항을 충족할 수 있습니다.
조명 밝은 필드 어두운 필드 DIC 형광등 편광 조명
반사된 조명
전송된 조명 - - -

응용 프로그램

BS-4020 산업 검사 현미경은 다양한 크기의 웨이퍼와 대형 PCB 검사를 위한 이상적인 기기입니다. 이 현미경은 웨이퍼, FPD, 회로 패키지, PCB, 재료과학, 정밀 주조, 금속 도금기, 정밀 몰드, 반도체 및 전자 제품 등

사양

항목 사양 BS-4020A BS-4020B
광학 시스템 NIS45 Infinite Color Corrected Optical System(튜브 길이: 200mm) · ·
헤드 보기 Ergo Tilting Trinocular Head, 조절식 0-35° 경사, 동공거리 47mm-78mm, 분할 비율 아이피스: Trinocular = 100:0 또는 20:80 또는 0:100 · ·
Seidentopf Trinocular Head, 30° 경사, 동공간 거리: 47mm-78mm; 분할 비율 아이피스: Trinocular = 100:0 또는 20:80 또는 0:100
Seidentopf 양안머리, 30° 경사, 동공거리: 47mm-78mm
아이피스 슈퍼 와이드 필드 플랜 아이피스 SW10X/25mm, 디옵터 조절 가능 · ·
슈퍼 와이드 필드 플랜 아이피스 SW10X/22mm, 디옵터 조절 가능
초광각 필드 플랜 아이피스 EW12.5X/17.5mm, 디옵터 조절 가능
넓은 필드 플랜 아이피스 WF15X/16mm, 디옵터 조절 가능
넓은 필드 플랜 아이피스 WF20X/12mm, 디옵터 조절 가능
목표 NIS45 무한 LWD 계획 세미 아포 목표(BF 및 DF), M26 5x/NA = 0.15, WD = 20mm · ·
10x/NA = 0.3, WD = 11mm · ·
20x/NA = 0.45, WD = 3.0mm · ·
NIS45 Infinite LWD APO 목표(BF 및 DF), M26 50x/NA = 0.8, WD = 1.0mm · ·
100x/NA = 0.9, WD = 1.0mm · ·
NIS60 Infinite LWD 계획 BF(Semi-APO Objective), M25 5x/NA = 0.15, WD = 20mm
10x/NA = 0.3, WD = 11mm
20x/NA = 0.45, WD = 3.0mm
NIS60 Infinite LWD 플랜 APO 목표(BF), M25 50x/NA = 0.8, WD = 1.0mm
100x/NA = 0.9, WD = 1.0mm
노세피스 후향적 섹툭한 조각(DIC 슬롯 포함) · ·
콘덴서 LWD 콘덴서 N.A. 0.65 ·
전송된 조명 40W LED 전원 공급 장치(광 섬유 조명 가이드 포함), 강도 조절 가능 ·
반사된 조명 반사광 24V/100W 할로겐 램프, Koehler 조명, 6위치 터렛 · ·
100W 할로겐 램프 하우스 · ·
5W LED 램프가 장착된 반사광, 코ehler 조명, 6개의 터렛 위치
BF1 브라이트 필드 모듈 · ·
BF2 Bright field module(BF2 밝은 필드 모듈 · ·
DF 다크 필드 모듈 · ·
내장 ND6, ND25 필터 및 컬러 보정 필터
ECO 기능 ECO 버튼이 있는 ECO 기능 · ·
집중하기 낮은 위치의 동축 굵은 초점 및 미세 초점, 미세 분할 1μm, 이동 범위 35mm · ·
단계 3중 기계무대, 손잡이, 크기 14" x12"(356mmx305mm), 이동 범위 356mmX305mm, 전광조명 조명: 356x284mm · ·
웨이퍼 홀더: 12인치 웨이퍼를 고정하는 데 사용할 수 있습니다 · ·
DIC 키트 반사된 조명용 DIC 키트(10배, 20배, 50배, 100배 목표에 사용 가능)
편광 키트 반사되는 조명을 위한 편광
반사광용 분석기, 0 - 360° 회전 가능
투과된 조명용 편광
전송된 조명용 분석기
기타 액세서리 0.5X C 마운트 어댑터
C 마운트 어댑터 1개
먼지 덮개 · ·
전원 코드 · ·
보정 슬라이드 0.01mm
검체 프레서
참고:·표준 옷차림의 ○ 옵션


 

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