다기능 회절 분석 엑스선 회절계

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개요

기본 정보

모델 번호.
CY-7200
보증
일년
탐지 방법
XRD
이점
민감한 높은
원칙
XRD
파장
UV 분광계
분산 요소
격자 분광계
빛 번호
다색 분광기
인증
RoHS 준수, ISO9001, CE
사용자 지정
사용자 지정
장파 범위
175nm~800nm
해상도(FWHM)
0.009nm(313nm 기준)
파장 정지
±0.001nm
광전자 튜브
r306과 다른 한 가지 유형
운송 패키지
상자
규격
75cm * 65cm * 70cm
등록상표
계에오
원산지
Shan Dong
세관코드
9027500090
생산 능력
100

제품 설명

                        
                    다기능 회절 분석 XRD 회절분석기 Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer



 1.프로필:
상업 공정 및 품질 관리를 위해 설계되었습니다. 이 기술은 다기능과 소형화가 가능한 XRD 생산 기술의 집중도입니다.    특히 촉매, 이산화 티타늄, 시멘트, 약국 산업에서 금속 및 비금속 시료에 대한 정성적 분석, 정량 분석 및 결정 구조 분석을 수행할 수 있습니다.
장비 성능:
  1. 고주파수 고전압 X선 발생기는 안정성이 뛰어나 데이터의 반복성을 보장합니다 .
  2. 고니오미터, 가시암은  서보 모터 드라이브와 광학 인코더 제어 기술을 채택하므로 고니오미터가 더 부드럽게 회전하고 회절 각도 측정이 더 정확하며 선형성이 더 우수합니다 . 회절 각도 범위 내에서 회절 선형성 < 0.02
  3. 산란선 보호 장치는 더 안전하고 안정적입니다. 샘플을 측정할 때, 사람에 대한 방사선을 방지하기 위해 보호용 도어가 자동으로 잠깁니다.
  4. CY-7200XRD 는 가장 진보된 금속 세라믹 X선 튜브를 채택하여 사용 수명이 깁니다(3,000시간).
   5.특수 실험실 환경 없이 플랫폼에 콤팩트한 구조를 설치할 수 있습니다. 작동이 쉽습니다          유지 보수.
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer3.적용:
CY-7200XRD   는 다결정 물질에 대한 정성적 및 정량적 분석을 수행할 수 있습니다. 정성적 분석 중에 측정 데이터를 알려진 위상 데이터 기반과 비교하여 알 수 없는 구조를 식별합니다. 정량 분석 중에   고체 혼합물의 특성을 설명하여 결정질 화합물 또는 비결정화 단계의 상대적 내용을 확인할 수 있습니다 .                                                                                                                                                                        
  CY-7200의 혼합물에 포함된 석면 함량 측정  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer
 CY-7200의 뉴클레오티드 아날로그 의학 구조 분석
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer4.파라미터:
서비스 등급(튜브 전압, 튜브 전류) 600W(40kV, 15mA) 안정성: 0.005%
X선관 금속 세라믹 X선 튜브, Cu 타겟, 전력 2.4kW, 초점 크기: 1 x 10mm
측각기 M.S-dmd, 회절 반경 150mm
측정 방법 연속, 스테핑, OMG
각도 측정 범위 누전 시간, dr/dr가 -3°~150°입니다.  
최소 스텝 너비 0.0001°
각도 재현성 0.0001°
드라이브 모드 서보 모터 드라이브 + 광학 인코더 제어 기술
각도 배치 속도 1500°/min
카운터 폐쇄형 비례식 검출기
 에너지  스펙트럼 해상도 25% 미만
최대 선형 계수 속도 ≥ 5 × 105cps(비례)
컴퓨터 Dell 노트북
소프트 웨어 제어 소프트웨어 Windows 10 운영 체제; X선 제너레이터의 튜브 전압, 튜브 전류, 셔터를 제어하고 자동으로 노화 교육을 수행합니다. 측각기의 연속 또는 스테핑 스캐닝 및 회절 데이터 수집을 제어합니다. 일상적인 처리를 수행합니다. 자동 피크 탐색, 수동 피킹 탐색, 통합 강도, 피크 높이, 코어, 배경 공제, 부드러움, 피크 형태 증폭 및 분광그램 비교 등
데이터 처리 소프트웨어 재질 상에 대한 정성적 및 정량적 분석, Kα1, α2 필링, 전체 스펙트럼 피팅, 피크 피팅, 반폭 및 입자 크기 계산, 결정 세포 측정, 2종 응력 계산, 회절 라인 인덱싱, 다중 플로팅, 3D 플로팅, 회절 데이터 보정, 배경 감산,   표준 없는 정량 분석, 전체 스펙트럼 이미지 피팅(WPF), XRD 회절 이미지 시뮬레이션 등
산란 방사선 보호 납 + 납 유리 보호, 셔터 윈도우 및 보호 가드 연결, 1μSv/h를 초과하지 않는 산란 방사선 선량
기기  종합 규정 ≤ 1 ≤
전체 치수 640 × 530 × 770(w × d × h)mm
CY-7200XRD 표준 구성 목록:
파트 요소 이름 단위 수량 비고
X선 고전압 발생기 XRD40 * 600 고주파수 고전압 발생기 X선 제너레이터 설정 1 견고한 기술
X27.06 고전압 케이블(100kVp) 조각 1 길이: 2.0미터
3311 파이프 슬리브 설정 1  
X25.02 단계(금속 쉘) 조각 1 리드 + 리드 글라스 보호
AS2910/24 금속 세라믹 절연  X선 튜브 조각 1 Cu 타겟, 2.4kW


측각기 시스템
AG-3511 측각기 설정 1 θ-θ 구조
슬릿 및 분말 시료 홀더 조각 1 각 1세트
관통 구멍 샘플 플레이트 조각 5 알루미늄 매트릭스
블라인드 구멍 샘플 플레이트 조각 10 석영 매트릭스
필터 조각 1 대상 재질과 일치
슬릿 플레이트 및 조명 시스템 조정 부속품 설정 1  
녹음 및 제어 시스템 폐쇄형 비례식 검출기 설정 1 연결 케이블 포함
녹음 및 제어 장치 설정 1  
모터 및 통신 케이블 조각 1 모터 케이블 2개, 통신 케이블 1개
전원 공급 장치 설정 1  
PC 시스템 Dell 비즈니스 노트북 설정 1 Dell
시스템 제어 및 해당 소프트웨어 Al 시리즈 회절분석기 제어 프로그램 소프트웨어 설정
 
1 Windows10
데이터 처리 및 애플리케이션 소프트웨어 설정 1 제이드 6
회절 데이터 카드 기반 설정 1 PDF2
Crystal Structure 데이터 베이스 설정 1 ICSD
기술 문서 Al 시리즈 XRD 사용 설명서 복사 1  
예비 부품 퓨즈 1,1.5,2, 2.5, 3,3+ (A) 조각 10 각 10개
도구 설정 1  
모르타르 주물 100mm 조각 1  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerX선 회절분석기는 천연 또는 합성 소기관 유기물을 분석하며, 점토 광물, 시멘트, 건축 자재, 환경 먼지, 화학 제품, 제약, 석면, 암석 분야에서 널리 사용됩니다. 고분자 연구.
θ-θ 지오메트리 기반 광학 설계는 시료 전처리 및 처리를 위해 쉽습니다 다양한 액세서리 설치 금속 세라믹 사용 X선 튜브의 향상된 회절분석기 작동 전력 폐식 비례계입니다 내구성이 뛰어나고 유지 보수가 필요 없습니다
탁월한 각분해능과 에너지 분해능의 실리콘 드리프트 검출기로 측정 속도를 3배 이상 향상 다양한 회절분석기 부속품이 다양한 분석 목적에 부합함 플러그 앤 플레이 구성품이라고 하는 모듈식 설계로 광 시스템을 계산하지 않고도 회절분석기 해당 어탯치먼트를 정확하게 사용할 수 있습니다.

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer광학 시스템 컨버터
Sola 슬릿 바디는 분해하지 않고도 변경할 수 있습니다. 이 특성 때문에 재조정할 필요 없이 초점 광학 시스템과 수평 광학 시스템 간에 변환기가 가능합니다.

데이터 처리 소프트웨어에는 다음과 같은 기능이 포함되어 있습니다

기본적인 데이터 처리 기능(피크 검색, 평활화, 배경 감산, 피크 형태 조정, 피크 형태 확대, 스펙트럼 비교, K α 1, α 2 스트리핑, 회절 라인 인덱싱)
표준 시료의 신속한 정량 분석
크리스탈 크기 측정
결정 구조 분석(결정 세포 매개변수 rmeasurement and sinement)
거시적 응력 측정 및 미세 응력
다중 도면의 2차원 및 3차원 디스플레이
회절 피크 도면의 클러스터 분석
회절 데이터의 반 피크 폭 보정 곡선
편차 데이터의 각도 편차 수정 곡선
Rietveld는 기존의 정량적 분석 결과를 바탕으로 합니다
LCDd 데이터베이스 또는 사용자 데이터베이스를 사용하여 정성적 단계를 수행합니다 분석
ICDD 데이터베이스 또는 ICSD 데이터베이스를 사용하여 정량적 분석을 수행합니다
 

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

우리의 장점

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

FAQ

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

 

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