FM - 고효율 Atomic Force Microscope를 사용한 Nanoview Tapping
FM - Nanoview 1000 flyingman AFM Atomic Force Microscope
제품 설명
i. 기능
1.스캔 헤드와 샘플 스테이지는 함께 설계되어 강력한 진동 방지 성능을 제공합니다
2.정밀 레이저 감지 및 프로브 정렬 장치로 레이저 조정이 쉽고 간단해집니다 .
3.정확한 스캐닝 영역 위치를 위해 서보모터를 조정하여 샘플이 팁에 접근하는 것을 수동 또는 자동으로 구동합니다.
4.높은 정확도와 넓은 범위의 시료 전달 장치를 통해 흥미로운 시료 영역을 스캔할 수 있습니다.
팁 점검 및 샘플 위치 지정을 위한 광학 관찰 시스템
6. 전자 계통은 모듈식으로 설계되어 정비 및 추가 개발을 용이하게 합니다.
진동 차단, 단순함 , 우수한 성능을 위해 스프링을 채택합니다.
ii 소프트웨어
선택 가능한 샘플링 픽셀은 256 × 256, 512 × 512의 두 종류입니다.
스캔 영역 이동 및 잘라내기 기능을 실행하여 시료의 흥미로운 영역을 선택합니다.
처음부터 샘플을 무작위로 스캔
레이저 스팟 감지 시스템을 실시간으로 조정합니다 .
팔레트에서 스캔 이미지의 다른 색상을 선택하고 설정합니다.
샘플 제목에 대해 실시간으로 선형 평균 및 오프셋 보정을 지원합니다.
스캐너 감도 보정 및 전자 컨트롤러 자동 보정 지원
오프라인 분석 및 샘플 이미지 프로세스를 지원합니다.
제품 매개변수
III 주요 기술 매개변수
| 항목 |
기술 데이터 |
항목 |
기술 데이터 |
| 작동 모드 |
접촉 모드, 마찰 모드, 태핑 연장 모드, 위상, MFM, EFM |
스캔 각도 |
무작위 |
| 샘플 크기 |
Φ ≤ 90mm, H ≤ 20mm |
샘플 이동 |
0 ~ 20mm |
| 최대 스캔 범위 |
X/Y: 20um , Z: 2um |
접근 중인 모터의 펄스 폭 |
10 ± 2ms |
| 해상도 |
X/Y: 0.2nm , Z: 0.05nm |
광학 시스템 |
확대: 4X, 해상도: 2.5um |
| 스캔 속도 |
0.6Hz ~ 4.34Hz |
데이터 요소 |
256 × 256,512 × 512 |
| 스캔 제어 |
XY: 18비트 D/A, Z: 16비트 D/A |
피드백 유형 |
DSP 디지털 피드백 |
| 데이터 샘플링 |
14비트 A/D와 더블 16비트 A/D 다중 채널 1 개 |
| PC 연결 |
USB2.0 |
피드백 샘플링 속도 |
64.0KHz |
| Windows |
Windows98/2000/XP/7/8과 호환됩니다 |
2013년에 FSM 구축. 지난 9년 동안 우리는 실험실과 공장을 위한 도구를 만드는 데 집중했습니다.
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